Withdrawn
Standard
Most Recent
DIN 45903*CECC 00013:1985-08
Harmonized system of quality assessment for electronic components; basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice
Preview
Summary
Harmonisiertes Gütebestätigungssystem für Bauelemente der Elektronik; Grundspezifikation: Prüfung von Halbleiterchips mit Raster-Elektronenmikroskop (CECC 00013)
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 08/01/1985 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
No products.