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DIN 50431:1988-05
Testing of semiconductor materials; measurement of the resistivity of silicon or germanium single crystals by means of the four probe/direct current method with collinear array
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Summary
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung des spezifischen elektrischen Widerstandes von Einkristallen aus Silicium oder Germanium mit dem Vier-Sonden-Gleichstrom-Verfahren bei linearer Anordnung der Sonden
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 05/01/1988 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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