Withdrawn
Standard
Most Recent
DIN 50435:1988-05
Testing of semiconductor materials; determination of the radial resistivity variation of silicon or germanium slices by means of the four-probe/direct current method
Preview
Summary
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung der radialen Variation des spezifischen elektrischen Widerstandes an Silicium- oder Germanium-Scheiben mit dem Vier-Sonden-Gleichstromverfahren
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 05/01/1988 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
No products.