DIN 50439:1982-10
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DIN 50439:1982-10

Testing of materials for semiconductor technology; determination of the dopant concentration profile of single crystalline semiconductor material by means of the capacitancevoltage method and mercury contact

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Bestimmung des Dotierungsprofiles von einkristallinem Halbleitermaterial mit der Kapazitäts-Spannungs-Methode und Quecksilberkontakt

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 10/01/1982
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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