DIN 50440:1998-11
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DIN 50440:1998-11

Testing of materials for semiconductor technology - Measurement of carrier lifetime in silicon single crystals - Recombination carrier lifetime at low injection by photoconductivity method

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Messung der Trägerlebensdauer in Silicium-Einkristallen - Rekombinations-Trägerlebensdauer bei geringer Injektion nach dem Photoleitfähigkeitsverfahren

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 11/01/1998
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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