DIN 50442-1:1981-02
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DIN 50442-1:1981-02

Testing of semi-conductive inorganic materials; determination of the surface structure of circular monocrystalline semi-conductive slices; as-cut and lapped slices

Summary

Prüfung halbleitender anorganischer Stoffe; Bestimmung der Oberflächenstruktur kreisförmiger, einkristalliner Halbleiterscheiben; Gesägte und geläppte Scheiben

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 02/01/1981
Page Count 8
EAN ---
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Weight (in grams) ---
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