DIN 50444:1984-04
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DIN 50444:1984-04

Testing of materials for semiconductor technology; conversion between resistivity and dopant density; silicon

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Umrechnung zwischen spezifischem elektrischen Widerstand und Dotierungskonzentration; Silicium

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/1984
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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