DIN 50456-2:1995-04
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DIN 50456-2:1995-04

Testing of materials for semiconductor technology - Method for the characterisation of moulding compounds for electronic components - Part 2: Determination of ionic impurities using pressure cooker test

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Verfahren zur Charakterisierung von Umhüllungspressmassen für elektronische Bauelemente - Teil 2: Bestimmung ionischer Verunreinigungen mittels Druckextraktions-Verfahren

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/1995
Page Count 8
EAN ---
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Weight (in grams) ---
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