Superseded
Standard
Historical
DIN EN 60749-7:2003-04
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases (IEC 60749-7:2002); German version EN 60749-7:2002.
Summary
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 7: Messung des inneren Feuchtegehaltes und Analyse von anderen Restgasen (IEC 60749-7:2002); Deutsche Fassung EN 60749-7:2002 / Achtung: Daneben gilt DIN EN 60749 (2002-09) unter besonderen Bedingungen noch bis 2005-07-01.*Übergangsfrist, festgelegt durch DIN EN 60749-7 (2012-02), bis 2014-07-22 beachten.
Notes
Under certain conditions, DIN EN 60749 (2002-09) remains valid alongside this standard until 2005-07-01.*A transition period, as set out in DIN EN 60749-7 (2012-02), exists until 2014-07-22.
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 04/01/2003 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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