Superseded Draft standard
Historical

DIN EN IEC 63364-1:2023-10

Semiconductor devices - Semiconductor devices for IOT system - Part 1: Test method of sound variation detection (IEC 47/2742/CDV:2021); German and English version prEN IEC 63364-1:2021

Summary

Halbleiterbauelemente - Halbleiterbauelemente für IOT-Systeme - Teil 1: Prüfverfahren für die Erkennung von Schallschwankungen (IEC 47/2742/CDV:2021); Deutsche und Englische Fassung prEN IEC 63364-1:2021

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 10/01/2023
Page Count 8
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Weight (in grams) ---
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