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DIN IEC 47(CO)1053:1988-12
Semiconductor devices; internal visual examination; procedure for discrete semiconductors; identical with IEC 47(Central Office)1053
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Summary
Halbleiterbauelemente; Interne Sichtprüfung vor dem Verschließen; Verfahren für Einzel-Halbleiterbauelemente; Identisch mit IEC 47(CO)1053
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 12/01/1988 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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