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DIN IEC 47(CO)1251:1992-05

Semiconductor devices; measuring method of the excess carrier effective life time of diodes for fast switching applications; identical with IEC 47(Central Office)1251

Summary

Halbleiterbauelemente; Meßverfahren für die effektive Lebensdauer überschüssiger Ladungsträger in schnellen Schaltdioden; Identisch mit IEC 47(CO)1251

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 05/01/1992
Page Count 8
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Weight (in grams) ---
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