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DIN IEC 47(CO)809:1982-04
Semiconductor devices and integrated circuits; general principles of measuring methods; low-power signal diodes, forward recovery time and forward transient voltage
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Summary
Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen; Meßverfahren; Dioden kleiner Leistung; Durchlaßverzögerungszeit und Einschaltscheitelspannung
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 04/01/1982 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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