Superseded
Draft standard
Historical
DIN IEC 61164:2002-02
Reliability growth in product design and test - Statistical test and estimation methods (IEC 56/774/CD:2001), text in English
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Summary
Zuverlässigkeitswachstum bei Entwurf und Prüfung von Produkten - Statistische Tests und Schätzverfahren (IEC 56/774/CD:2001), Text Englisch
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 02/01/2002 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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