Superseded Draft standard
Historical

DIN IEC 62047-6:2007-07

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 6: Axial fatigue testing methods of thin film materials (IEC 47/1900/CD:2007)

Summary

Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 6: Prüfverfahren zur uniaxialen Dauerschwingfestigkeit von Dünnschicht-Werkstoffen (IEC 47/1900/CD:2007)

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 07/01/2007
Page Count 8
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Weight (in grams) ---
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