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NF EN 60749-1, C96-022-1 (11/2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 11/01/2003
Release Date 11/01/2003
Page Count 10
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---