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NF EN 60749-1, C96-022-1 (11/2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 1 : general - Dispositifs à semiconducteurs
Summary
Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés) et établit des dispositions communes à toutes les autres parties de la série.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 11/01/2003 |
| Release Date | 11/01/2003 |
| Page Count | 10 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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