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NF EN 60749-16, C96-022-16 (07/2003)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16 : particle impact noise dectection (PIND) - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document définit un essai permettant de détecter la présence de particules libres à l'intérieur d'un dispositif à cavité, comme des particules de céramique, des éléments de fil de liaison ou des boules de brasure (granulés).
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 07/01/2003 |
| Release Date | 07/01/2003 |
| Page Count | 9 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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