NF EN 60749-2, C96-022-2 (12/2002)
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NF EN 60749-2, C96-022-2 (12/2002)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 2 : low air pressure - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document décrit l'essai de basse pression atmosphérique appliqué aux dispositifs à semiconducteurs.

Notes

Remplace l'article 3 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 (C96-022) de décembre 1999 et ses amendements A1 de février 2002 et A2 de juin 2002

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 12/01/2002
Release Date 12/01/2002
Page Count 9
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---

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