NF EN 60749-25, C96-022-25 (12/2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25 : temperature cycling - Dispositifs de semiconducteurs

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Description

Features

Life cycle

Historical

Summary

Le présent document fournit une procédure d'essai pour déterminer la capacité des dispositifs à semiconducteurs et des composants et/ou des cartes équipées à résister aux contraintes mécaniques induites en alternant des extrêmes de hautes et basses températures. Des variations permanentes des caractéristiques électriques et/ou physiques peuvent résulter de ces contraintes mécaniques.

Notes

Remplace le paragraphe 1.1 du chapitre 3 de la norme NF EN 60749 de 1999

Technical characteristics

Publisher	Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date	12/01/2003
Release Date	12/01/2003
Page Count	15
Themes	Electrotechnologies
EAN	---
ISBN	---
Weight (in grams)	---