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NF EN 60749-29, C96-022-29 (08/2012)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29 : latch-up test - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document couvre l'essai l et l'essai de verrouillage de surtension des circuits intégrés.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 08/01/2012 |
| Release Date | 08/01/2012 |
| Page Count | 29 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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