Superseded Standard
Historical

NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)

Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe

Summary

Le présent document a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il est applicable à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots ou les deux.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 12/01/2002
Release Date 12/01/2002
Cancellation Date 09/01/2024
Page Count 6
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Weight (in grams) ---
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