Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-3, C96-022-3 (12/2002)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 3 : examen visuel externe
Summary
Le présent document a pour but de vérifier que les matériaux, la conception, la construction, les marquages et l'exécution du dispositif à semiconducteurs sont conformes au document d'approvisionnement applicable. L'examen visuel externe est un essai non destructif et il est applicable à tous les types de boîtiers. Cet essai est utile pour la qualification, la surveillance des procédés ou pour la réception des lots ou les deux.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2002 |
| Release Date | 12/01/2002 |
| Cancellation Date | 09/01/2024 |
| Page Count | 6 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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