NF EN 60749-31, C96-022-31 (11/2003)
Active Standard
Most Recent

NF EN 60749-31, C96-022-31 (11/2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31 : flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced) - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés).

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 11/01/2003
Release Date 11/01/2003
Page Count 6
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---

Replaces

Previous versions

Contact us