NF EN 60749-33, C96-022-33 (12/2005)
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NF EN 60749-33, C96-022-33 (12/2005)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33 : accelerated moisture resistance - unbiased autoclave - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document décrit l'essai d'autoclave non polarisé", réalisé pour évaluer l'intégrité de résistance à l'humidité des dispositifs à l'état solide sous boîtiers non-hermétiques utilisant des environnements à vapeur saturée d'humidité ou à condensation d'humidité.

Notes

Édition bilingue FR,EN

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 12/01/2005
Release Date 12/01/2005
Page Count 12
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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