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NF EN 60749-34, C96-022-34 (05/2011)
Semiconducteur devices - Mechanical and climatic test methods - Part 34 : power cycling - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document décrit une méthode d'essai utilisée pour déterminer la résistance d'un dispositif à semiconducteurs aux contraintes thermiques et mécaniques du fait de la dissipation de puissance de la puce à semiconducteur interne et des connecteurs internes.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 05/01/2011 |
| Release Date | 05/01/2011 |
| Page Count | 15 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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