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NF EN 60749-35, C96-022-35 (12/2006)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35 : acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components - Dispositifs à semiconducteurs
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Summary
Le présent document définit les procédures pour réaliser la microscopie acoustique pour composants électroniques à boîtier plastique. Il fournit un guide d'utilisation de la microscopie acoustique pour détecter les anomalies (décollement interlaminaire, fissures, vides dans le composé de moulage) de manière reproductible et non destructive dans des boîtiers en plastique.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2006 |
| Release Date | 12/01/2006 |
| Page Count | 22 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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