NF EN 60749-38, C96-022-38 (06/2008)
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NF EN 60749-38, C96-022-38 (06/2008)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 38 : soft error test method for semiconductor devices with memory - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document établit une procédure de mesure de la prédisposition aux erreurs logicielles des dispositifs à semiconducteurs à mémoire lorsqu'ils sont soumis à des particules énergétiques telles que le rayonnement alpha.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 06/01/2008
Release Date 06/01/2008
Page Count 17
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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