NF EN 60749-8, C96-022-8 (11/2003)
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NF EN 60749-8, C96-022-8 (11/2003)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8 : sealing - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document est applicable aux dispositifs à semiconducteurs (dispositifs discrets et circuits intégrés). L'objet de cette méthode d'essais est de déterminer le taux de fuite des dispositifs à semiconducteurs.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 11/01/2003
Release Date 11/01/2003
Page Count 18
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---

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