Superseded
Standard
Historical
NF EN 60749-9, C96-022-9 (12/2002)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essais mécaniques et climatiques - Partie 9 : permanence du marquage
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Summary
Le présent document décrit l'essai de permanence du marquage appliqué aux semiconducteurs.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2002 |
| Release Date | 12/01/2002 |
| Cancellation Date | 09/01/2024 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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