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NF EN 62047-11, C96-050-11 (03/2014)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 11 : test method for coefficients of linear thermal expansion of free-standing materials for micro-electromechanical systems - Dispositifs à semiconducteurs

Summary

Le présent document définit la méthode d'essai pour mesurer les coefficients de dilatation thermique linéaire (CLTE) de matériaux de systèmes micro-électromécaniques (MEMS) solides autonomes minces (métalliques, céramiques, polymères, etc.) dont la longueur est comprise entre 0,1 mm et 1 mm, la largeur entre 10 micromètres et 1 mm et l'épaisseur entre 0,1 micromètre et 1 mm, qui sont les matériaux structurels principaux utilisés pour les MEMS, les micromachines et autres. Cette méthode d'essai peut s'appliquer à la mesure des CLTE dans la gamme de températures allant de la température ambiante jusqu'à 30 % de la température de fusion du matériau.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 03/01/2014
Release Date 03/01/2014
Page Count 23
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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