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NF EN 62374, C96-017 (01/2008)
Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films - Dispositifs à semiconductors
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Summary
Ce document décrit une méthode d'essai de la rupture diélectrique en fonction du temps (TDDB) pour films diélectriques de grille des dispositifs à semi-conducteurs et une méthode d'estimation de la durée de vie de produit en présence d'une défaillance de type TDDB.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 01/01/2008 |
| Release Date | 01/01/2008 |
| Page Count | 46 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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