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NF EN IEC 60749-10, C96-022-10 (06/2022)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 10 : Mechanical shock - device and subassembly

Summary

Le présent document est destiné à évaluer les dispositifs à l'état libre et ceux qui sont assemblés à des cartes à câblage imprimé pour être utilisés dans des matériels électriques.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 06/01/2022
Release Date 06/01/2022
Page Count 16
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---