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NF EN IEC 60749-13, C96-022-13 (04/2018)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 13 : salt atmosphere

Summary

Le présent document décrit un essai d'atmosphère saline réalisé pour déterminer la résistance à la corrosion des dispositifs à semiconducteurs. Il s'agit d'un essai accéléré qui simule les effets d'une atmosphère côtière corrosive sur toutes les surfaces exposées. Il n'est applicable qu'aux dispositifs spécifiés pour un environnement maritime.L'essai d'atmosphère saline est considéré comme destructif.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 04/01/2018
Release Date 04/01/2018
Page Count 18
Themes Electrotechnologies
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---