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NF EN IEC 60749-28, C96-022-28 (04/2022)
Dispositifs à semiconducteurs - Méthodes d'essai mécaniques et climatiques - Partie 28 : Essai de sensibilité aux décharges électrostatiques (DES) - Modèle de dispositif chargé (CDM) - niveau du dispositif
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Summary
Le présent document établit la procédure d'essai, d'évaluation et de classification des dispositifs et des microcircuits selon leur susceptibilité (sensibilité) au dommage ou leur dégradation par suite de leur exposition à une décharge électrostatique (DES) sur un modèle défini de dispositif chargé (CDM) induit par champ.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 04/01/2022 |
| Release Date | 04/01/2022 |
| Page Count | 52 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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