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NF EN IEC 60749-41, C96-022-41 (09/2020)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41 : standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
Summary
Le présent document spécifie les exigences relatives aux procédures permettant de réaliser des essais valides d'endurance, de conservation de données et à températures opposées, basées sur une spécification de qualification. Les spécifications de qualification des essais d'endurance et de conservation de données (pour les nombres de cycles, durées, températures et tailles d'échantillon) sont données dans le document JESD47 ou sont développées en utilisant des méthodes à base de connaissances, telles que celles données dans le document JESD94.Thésaurus International Technique : composant électronique, dispositif semi-conducteur, mémoire morte, mémoire reprogrammable, donnée, essai à haute température, essai de cycle de température, matériel d'essai, conservation, durée, contrainte, mesurage électrique, calcul, défaillance, erreur.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 09/01/2020 |
| Release Date | 09/01/2020 |
| Page Count | 29 |
| Themes | Electrotechnologies |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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