NF EN ISO 3274, E05-052 (03/1998)

La présente Norme internationale définit les différents profils et la structure générale des appareils à contact (palpeur) utilisés pour mesurer la rugosité et l'ondulation de surface, permettant ainsi d'appliquer les Normes internationales existantes à l'évaluation pratique des profils. Elle prescrit les caractéristiques des appareils qui influencent l'évaluation du profil et fournit un cadre de spécifications des appareils à contact (palpeur) (profilomètres et enregistreurs de profil). NOTES1 Une fiche technique présentant les caractéristiques des appareils à contact (palpeur), à remplir par le fabricant, est en cours de préparation. Elle fera l'objet d'une Norme internationale ultérieure sur les procédures d'étalonnage.2 Les relations entre la longueur d'onde de coupure d'ondulation ?f, le rayon de pointe et le rapport des longueurs de coupure d'ondulation sont à l'étude et feront l'objet d'un amendement à la présente Norme internationale.