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NF ISO 10810, X21-071 (04/2011)
Analyse chimique des surfaces - Spectroscopie de photoélectrons par rayons X - Lignes directrices pour l'analyse
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Summary
L'ISO 10810:2010 a pour but d'aider l'opérateur de spectromètres de photoélectrons par rayons X à analyser des échantillons types. Elle guide l'opérateur dans l'analyse depuis la manipulation de l'échantillon jusqu'à l'étalonnage et le réglage du spectromètre, l'acquisition de spectres larges ou de spectres haute résolution et donne des conseils sur la quantification et la préparation du rapport final.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 04/01/2011 |
| Release Date | 04/01/2011 |
| Cancellation Date | 09/01/2024 |
| Page Count | 35 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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