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NF ISO 11938, X21-013 (05/2012)

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Methods for elemental-mapping analysis using wavelength-dispersive spectroscopy - Analyse par microfaisceaux

Summary

Le présent document décrit des modes opératoires pour l'analyse par cartographie élémentaire utilisant une microsonde électronique avec spectrométrie à dispersion de longueur d'onde. Le choix entre la cartographie par déplacement numérique du faisceau d'électrons dans l'échantillon (cartographie par balayage du faisceau d'électrons) et la cartographie impliquant uniquement le mouvement de la platine (cartographie sur zone large) est évalué. Le présent document décrit cinq types de traitement des données : la méthode de l'intensité brute des rayons X, la méthode du k-ratio, la méthode de la courbe d'étalonnage, la méthode de corrélation et la méthode de correction des effets de matrice.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 05/01/2012
Release Date 05/01/2012
Page Count 16
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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