NF ISO 15932, X21-016 (03/2014)
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Microbeam analysis - Analytical electron microscopy - Vocabulary

Summary

Le présent document définit les termes utilisés dans les applications de la microscopie électronique analytique (MEA). Il couvre à la fois des concepts généraux et des concepts spécifiques, classés selon le rang hiérarchique qu'ils occupent dans un ordre systématique.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 03/01/2014
Release Date 03/01/2014
Page Count 27
Themes Industry
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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