NF ISO 16242, X21-072 (06/2012)
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NF ISO 16242, X21-072 (06/2012)

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in Auger electron spectroscopy (AES) - Analyse chimique des surfaces

Summary

Le présent document spécifie le niveau minimal d'informations que l'analyste doit communiquer à la suite de l'analyse d'un échantillon par spectroscopie des électrons Auger (AIES). Il comprend les informations qui doivent être communiquées sur ou dans le rapport d'analyse.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 06/01/2012
Release Date 06/01/2012
Page Count 16
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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