NF ISO 16243, X21-073 (06/2012)
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NF ISO 16243, X21-073 (06/2012)

Surface chemical analysis - Recording and reporting data in X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) - Analyse chimique des surfaces

Summary

Le présent document spécifie le niveau minimal d'informations que l'analyste doit communiquer à la suite de l'analyse d'un échantillon par spectroscopie de photoélectrons par rayons X (XPS). Il comprend les informations qui doivent être communiquées sur ou dans le rapport d'analyse.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 06/01/2012
Release Date 06/01/2012
Page Count 16
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

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