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NF ISO 23830, X21-064 (02/2009)
Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Repeatability and constancy of the relative-intensity scale in static secondary-ion mass spectrometry - Analyse chimique des surfaces
Summary
Le présent document spécifie une méthode permettant de confirmer la répétabilité, et la constance de l'échelle des intensités relatives des ions positifs des spectromètres statiques de masse d'ions secondaires en vue d'une analyse générale. Il ne s'applique qu'aux instruments qui comportent un canon à électrons pour la neutralisation de la charge. Il n'est pas destiné à étalonner la fonction de réponse intensité/masse. Le fabricant de l'instrument ou un autre organisme peut procéder à cet étalonnage.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 02/01/2009 |
| Release Date | 02/01/2009 |
| Page Count | 19 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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