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NF ISO 24173, X21-011 (12/2009)
Microbeam analysis - Guidelines for orientation measurement using electron backscatter diffraction - Analyse par microfaisceaux
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Summary
L'ISO 24173:2009 fournit des recommandations sur la façon de produire des mesures d'orientation cristallographique fiables et reproductibles en utilisant la diffraction d'électrons rétrodiffusés (EBSD). Elle aborde les conditions de préparation des échantillons, la configuration de l'instrument, l'étalonnage et l'acquisition des données.
Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 12/01/2009 |
| Release Date | 12/01/2009 |
| Cancellation Date | 03/01/2025 |
| Page Count | 51 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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