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PR NF EN IEC 63287-4, C96-287-4PR (08/2025)
Dispositifs à semiconducteurs - Lignes directrices concernant les plans de qualification de la fiabilité - Partie 4 : évaluation des défaillances précoces
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Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 08/01/2025 |
| Release Date | 08/01/2025 |
| Page Count | 27 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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