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PR NF EN IEC 63550-2 (11/2025)
Dispositifs à semiconducteurs - Dispositifs neuromorphiques - Partie 2 : Méthode d'évaluation de la linéarité des dispositifs à memristance
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Technical characteristics
| Publisher | Association Française de Normalisation (AFNOR) |
| Publication Date | 11/01/2025 |
| Release Date | 11/01/2025 |
| Page Count | 20 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
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