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    UNE-EN 60512-6-2:2002

    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump.
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    Description
    Features
    Life cycle
    Historical
    No description.

    Technical characteristics

    Publisher Asociacion Espanola de Normalizacion y Certificacion (AENOR)
    Publication Date 12/16/2002
    Page Count 10
    EAN ---
    ISBN ---
    Weight (in grams) ---

    Modifies

    UNE-EN 50521:2010

    UNE-EN 50521:2010

    Connecteurs pour systèmes photovoltaïques - Exigences de sécurité et essais
    10/02/2010
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    Historical
    UNE-EN 50173-1:2009

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    22/07/2009
    Superseded
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    UNE-EN 61076-7:2001

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    21/12/2001
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    UNE-EN 60512-6-2:2002

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    Connectors for electronic equipment - Tests and measurements -- Part 6-2: Dynamic stress tests - Test 6b: Bump.
    16/12/2002
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