VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2018-03
Superseded Standard
Historical

VDI/VDE 2655 Blatt 1.3:2018-03

Optical measurement of microtopography - Calibration of interference microscopes for form measurement
Most recent standard

Summary

Optische Messtechnik an Mikrotopographien - Kalibrieren von flächenhaft messenden Interferometern und Interferenzmikroskopen für die Formmessung

Technical characteristics

Publisher Verein Deutscher Ingenieure e.V. (VDI)
Publication Date 03/01/2018
Page Count 31
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
No products.

Previous versions

Contact us