XP ISO/TS 21749, X06-066 (10/2005)

Le présent document décrit des méthodes pour obtenir les incertitudes à partir de plans emboîtés à un, deux et trois niveaux seulement. Il suit la méthode donnée dans le guide pour l'expression de l'incertitude de mesure (GUM) et ajoute un cadre statistique utilisant l'analyse de variance (ANOVA). Il n'aborde pas les situations expérimentales plus complexes, par exemple une interaction entre les effets dus à l'opérateur et ceux dus à l'instrument ou un effet croisé.