XP ISO/TS 24597, X21-015 (07/2011)
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XP ISO/TS 24597, X21-015 (07/2011)

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Methods of evaluating image sharpness - Analyse par microfaisceaux

Summary

L'ISO/TS 24597:2011 spécifie des méthodes d'évaluation de la netteté d'images numérisées produites par un microscope électronique à balayage au moyen de la méthode de la transformée de Fourier, la méthode contraste sur gradient et la méthode de la dérivée.

Technical characteristics

Publisher Association Française de Normalisation (AFNOR)
Publication Date 07/01/2011
Release Date 07/01/2011
Page Count 93
Themes Industry
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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