DIN 50440-1:1994-04
Superseded Draft standard
Historical

DIN 50440-1:1994-04

Testing of materials for semiconductor technology; measurement of carrier lifetime in silicon single crystals; recombination carrier lifetime at low injection by photo conductive decay method

Summary

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der Trägerlebensdauer in Silicium-Einkristallen; Rekombinations-Trägerlebensdauer bei geringer Injektion nach dem Photoleitfähigkeitsverfahren

Technical characteristics

Publisher Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN)
Publication Date 04/01/1994
Page Count 8
EAN ---
ISBN ---
Weight (in grams) ---
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