Superseded
Standard
Historical
DIN 50441-4:1987-07
Testing of materials for semiconductor technology; measurement of the geometric dimensions of semiconductor slices; diameter and flat depth of slices
Preview
Summary
Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie; Messung der geometrischen Dimensionen von Halbleiterscheiben; Scheibendurchmesser und Flattiefe
Technical characteristics
| Publisher | Deutsche Institut für Normung e.V. (DIN) |
| Publication Date | 07/01/1987 |
| Page Count | 8 |
| EAN | --- |
| ISBN | --- |
| Weight (in grams) | --- |
No products.
Previous versions
